-实验讲义-副本.
光学系统像差 传函焦距 测量 综合 实验 RLE-ME01 实 实 验 验 讲 讲 义 义
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前言 实际光学系统与理想光学系统成像的差异称为像差。光学系统成像的差异是《工程光学》课程重要章节，也是教学的难点章节，针对此知识点的教学实验产品匮乏。RealLight®开发的像差测量实验采用专门设计的像差镜头，像差现象清晰；涉及知识点紧贴像差理论的重点内容，是学生掌握像差理论的非常理想的教学实验系统。
焦距是光学系统的基本参数，工程上焦距测量普遍使用光电法进行测量。RealLight®设计开发的焦距测量测试方法与工程相同，开放式系统便于知识点讲授与学生实验操作。
光学系统像质评价工程上主要采用分辨率法和光学传递函数(MTF)测量法。分辨率法测量多用于大像差系统，实验简便直观察；MTF 测量法适用于一些高分辨率的光学系统。以上两种方法已广泛应用于工程实践中。本实验参照《工程光学》教材中“光学系统的像质评价”相关知识点设计开发而成。
目 目 录 实验 1 光学系统像差的计算机模拟...........................................................................1 1.1 引言.............................................................................................................1 1.2 实验目的.....................................................................................................1 1.3 实验原理.....................................................................................................1 1.4 实验仪器.....................................................................................................3 1.5 实验内容.....................................................................................................3 1.6 思考题.........................................................................................................4 实验 2平行光管的调节使用及位置色差的测量.......................................................5 2.1 引言.............................................................................................................5 2.2 实验目的.....................................................................................................5 2.3 基本原理.....................................................................................................5 2.4 实验仪器.....................................................................................................6 2.5 实验内容.....................................................................................................7 2.6 思考题.........................................................................................................8 实验 8 基于线扩散函数测量光学系统 MTF 值..........................................................9 8.1 引言.............................................................................................................9 8.2 实验目的.....................................................................................................9 8.3 实验原理.....................................................................................................9 8.4 实验仪器...................................................................................................11 8.5 实验内容...................................................................................................12 8.6 思考题.......................................................................................................13 实验 9 透镜焦距测量实验.........................................................................................14 9.1 引言...........................................................................................................14 9.2 实验目的...................................................................................................14 9.3 实验原理...................................................................................................14 9.4 实验仪器...................................................................................................15 9.5 实验步骤...................................................................................................15 参考文献........................................................................................错误!未定义书签。
实验 1 光学系统像差的计算机模拟 1.1 引言 如果成像系统是理想光学系统，则同一物点发出的所有光线通过系统以后, 应该聚焦在理想像面上的同一点，且高度同理想像高一致。但实际光学系统成像不可能完全符合理想，物点光线通过光学系统后在像空间形成具有复杂几何结构的像散光束，该像散光束的位置和结构通常用几何像差来描述。
1.2 实验目的 1.掌握主要七种几何象差产生的条件及其基本规律； 2.观察主要七种象差现象的计算机模拟效果图。
1.3 实验原理 光学系统所成实际像与理想像的差异称为像差，只有在近轴区且以单色光所成像之像才是完善的（此时视场趋近于 0，孔径趋近于 0）。但实际的光学系统均需对有一定大小的物体以一定的宽光束进行成像，故此时的像已不具备理想成像的条件及特性，即像并不完善。可见，象差是由球面本身的特性所决定的，即使透镜的折射率非常均匀，球面加工的非常完美，像差仍会存在。
几何像差主要有七种：球差、彗差、像散、场曲、畸变、位置色差及倍率色差。前五种为单色像差，后二种为色差。
1.球差 轴上点发出的同心光束经光学系统后，不再是同心光束，不同入射高度的光线交光轴于不同位置，相对近轴像点（理想像点）有不同程度的偏离，这种偏离称为轴向球差，简称球差(L )。如图 1-1 所示。
图 图 1-1 轴上点球差 2.彗差 彗差是轴外像差之一，它体现的是轴外物点发出的宽光束经系统成像后的失对称情
况，彗差既与孔径相关又与视场相关。若系统存在较大彗差，则将导致轴外像点成为彗星状的弥散斑，影响轴外像点的清晰程度。如图 1-2 所示。
图 图 1-2 彗差 3.像散 像散用偏离光轴较大的物点发出的邻近主光线的细光束经光学系统后，其子午焦线与弧矢焦线间的轴向距离表示 ts t sx x x (1-1)式中，tx,sx分别表示子午焦线至理想像面的距离及弧矢焦线会得到不同形状的物至理想像面的距离，如图 1-3 所示。
图 图 1-3 像散 当系统存在像散时，不同的像面位置会得到不同形状的物点像。若光学系统对直线成像，由于像散的存在其成像质量与直线的方向有关。例如，若直线在子午面内其子午像是弥散的，而弧矢像是清晰的；若直线在弧矢面内，其弧矢像是弥散的而子午像是清晰的；若直线既不在子午面内也不在弧矢面内，则其子午像和弧矢像均不清晰，故而影响轴外像点的成像清晰度。
4.场曲 使垂直光轴的物平面成曲面像的像差称为场曲。如图 1-4 所示。
子午细光束的交点沿光轴方向到高斯像面的距离称为细光束的子午场曲；弧矢细光
束的交点沿光轴方向到高斯像面的距离称为细光束的弧矢场曲。而且即使像散消失了（即子午像面与弧矢像面相重合），场曲依旧存在（像面是弯曲的）。
场曲是视场的函数，随着视场的变化而变化。当系统存在较大场曲时，就不能使一个较大平面同时成清晰像，若对边缘调焦清晰了，则中心就模糊，反之亦然。
图 图 1-4 场曲 5.畸变 畸变描述的是主光线像差，不同视场的主光线通过光学系统后与高斯像面的交点高度并不等于理想像高，其差别就是系统的畸变，如图 1-5 所示。
由畸变的定义可知，畸变是垂轴像差，只改变轴外物点在理想像面的成像位置，使像的形状产生失真，但不影响像的清晰度。
图 图 1-5 畸变 1.4 实验仪器 电脑主机及显示器一套、像差模拟软件 1.5 实验 内容 1.在配套软件光盘中找到 文件夹。
2.将此文件夹拷贝到电脑本地硬盘。
3.在文件夹中运行 文件。
4.点击右侧按钮选取所需要模拟的像差现象图。
效果图如下：
图 图 1-6-1 球差模拟效果图 图 图 1-6-2 彗差 模拟效果图 图 图 1-6-3 像散模拟效果图 图 图 1-6 像差模拟效果图 1.6 思考题 a.场曲有什么特点，它与像散有什么关系？ 答：场曲引起像面弯曲，场曲与孔径无关，它只是视场的函数，当视场为零时，不存生场曲；像散是由于场曲引起的，子午细光束交点与弧矢细光束交点重合时，不存生像散。
实验 2平行光 管的调节使用 及位置色差的测量 2.1 引言平行光管是一种长焦距、大口径，并具有良好像质的仪器，与前置镜或测量显微镜组合使用，既可用于观察、瞄准无穷远目标，又可作光学部件，光学系统的光学常数测定以及成像质量的评定和检测。
2.2 实验目的 1.了解平行光管的结构及工作原理； 2.掌握平行光管的使用方法； 3.了解色差的产生原理； 4.学会用平行光管测量球差镜头的色差。
2.3 实验 原理 根据几何光学原理,无限远处的物体经过透镜后将成像在焦平面上；反之,从透镜焦平面上发出的光线经透镜后将成为一束平行光。如果将一个物体放在透镜的焦平面上,那么它将成像在无限远处。
图 2-1 为平行光管的结构原理图。它由物镜及置于物镜焦平面上的分划板，光源以及为使分划板被均匀照亮而设置的毛玻璃组成。由于分划板置于物镜的焦平面上，因此，当光源照亮分划板后，分划板上每一点发出的光经过透镜后，都成为一束平行光。又由于分划板上有根据需要而刻成的分划线或图案，这些刻线或图案将成像在无限远处。这样，对观察者来说，分划板又相当于一个无限远距离的目标。
图 图 2-1平行光管的结构原理图 根据平行光管要求的不同，分划板可刻有各种各样的图案。图 2-2 是几种常见的分划板图案形式。图 2-2(a)是刻有十字线的分划板，常用于仪器光轴的校正；图 2-2(b)是带角度分划的分划板，常用在角度测量上；图 2-2(c)是中心有一个小孔的分划板，又被称为星点板；图 2-2(d)是分辨力板，它用于检验光学系统的成像质量。分辨力板的图样有许多种，这里只是其中的一种；图 2-2(e)是带有几组一定间隔线条的分划板，通常又称它为玻罗板，它用在测量透镜焦距的平行光管上。
图 图 2-2 分划板的几种形式 光学材料对不同波长的色光有不同的折射率，因此同一孔径不同色光的光线经过光学系统后与光轴有不同的交点。不同孔径不同色光的光线与光轴的交点也不相同。在任何像面位置，物点的像是一个彩色的弥散斑，如图 2-3 所示。各种色光之间成像位置和成像大小的差异称为色差。
图 图 2-3 轴上点色差 轴上点两种色光成像位置的差异称为位置色差，也叫轴向色差。对目视光学系统用FCL 表示，即系统对 F 光（486nm）和 C 光（656nm）消色差 FC F CL L L (2-1)对近轴区表示为 FC F Cl l l (2-2)根据定义可知，位置色差在近轴区就已产生。为计算色差，只需对 F 光和 C 光进行近轴光路计算，就可求出系统的近轴色差和远轴色差。
另，D 光波长 589nm。
2.4 实验 仪器平行光管、三色 LED 光源、色差镜头、CMOS 相机、电脑、机械调整架等。
图 图 2-4 位置色差测量实验装配图 注意：在安装 S CMOS 相机时，请根据 相机侧面的 o Logo 辨别相机位置正反。如果安装正确，可顺利旋紧支杆。
如果旋钮不顺利，则 相机 安装 不正确，不可强行旋钮，以免损坏支杆的螺纹。
2.5 实验 内容 1.根据位置色差测量实验装配图安装所有的器件。
注意：连接平行光管的直流可调电源选用 V 9V 输出，即配有单 输出接口 的可调电源。实验另配有 V 12V 可调电源，为双输出 接口。如果错接成 V 12V 输出的可调电源则可直接烧毁平行光管里的 D LED 灯。
2.由于像差实验使用的星点像只有 15μm，在较明亮的环境下无法通过肉眼观察到平行光管发光。如需检查平行光管光源是否连接正确，可直接目视平行光管出光口检查。
3.平行光管发出的光较弱，实验时请关闭室内照明，并使用遮光窗帘。
4.根据 CMOS 相机的使用说明书安装 CMOS 相机的驱动程序和采集程序。
5.打开相机的采集程序，使用连续采集模式。此时如果显示图像亮度过高适当减小相机的增益值和快门速度。
6.打开平行光管电源盒开关，将亮度可调旋钮调制最大。拨动平行光管后端 4 档拨动开关（波动开关控制顺序为：关-红-绿-蓝），打开红色照明。
7.调整相机沿导轨方向移动，将 CMOS 相机靶面调整到与待测镜头后焦点重合位置。此时可以在电脑屏幕上观察到待测镜头焦点亮斑。
8.调整平行光管照明亮度，使得显示亮斑亮度在饱和值以下。此时微调待测透镜下方的平移台，使得焦点亮斑最小且锐利。此时认为待测镜头后焦点与 CMOS 靶面重合。记录此时的平移台千分丝杆读数值。
9.变换平行光管照明光源颜色。使用千分丝杆调整待测镜头与 CMOS 相机之间的距离至焦点亮斑最小且锐利。分别记录此时的千分丝杆读数值，填入表 2-1。
10.根据公式测量待测镜头的位置色差值。
位置色差 F C F CL L L
FD F DL L L DC D CL L L 表 表 2-1 位置色差测量结果 FD F DL L L DC D CL L L FD F DL L L FCL "FDL DC D CL L L 2.6 思考题 a.引起位置色差的根本原因？ 答：不同的波长对应着不同的透镜折射率；透镜的折射率不同，光波会聚的焦点位置就不同，这是引起位置色差的根本原因。
实验 8 基于线扩散函数测量光学系统 MTF 值 3.1 引言 光学传递函数理论是在傅里叶分析理论的基础上发展起来的。最早在 1938 年，德国人弗里塞对鉴别率法进行了改进，提出用亮度呈正弦分布的分划板来检验光学系统，并且证实了这种鉴别率板经照相系统成像后像的亮度分布仍然是同频率的正弦分布，只是振幅受到了削弱。1946 年法国科学家 P.M.Duffheux 正式出版了一本阐述傅立叶方法在光学中的应用的书，并首次提出传递函数的概念，从此开拓了像质评价的新领域。
3.2 实验目的 1.学习了解光学传递函数理论； 2.光学调制传递函数(MTF)测量。
3.3 实验原理 调制传递函数(Modular Transfer Function，MTF)是信息光学领域引入的概念。光学成像系统作为最基本的光学信息处理系统，可以用来传递二维的图像信息。对于一个给定的光学系统而言，输入图像信息经过光学系统后，输出的图像信息取决于光学系统的传递特性。由于光学系统是线性系统，而且在一定条件下还是线性空间不变系统，因此可以沿用通信理论中的线性系统理论来研究光学成像系统性能。对于相干与非相干照明下的衍射受限系统，可以分别给出它们的本征函数，把输入信息分解为由这些本征函数构成的频率分量，并考察每个空间频率分量经过系统后的振幅衰减和相位移动情况，可以得出系统的空间频率特性，即传递函数。这是一种全面评价光学系统传递光学信息能力的方法，当然也可以用来评价光学系统的成像质量。与传统的光学系统像质评价方法(如星点法和分辨率法)相比，用光学传递函数方法来评价光学系统成像能力更加全面，且不依赖于观察个体的区别，评价结果更加客观，有着明显优越性。随着近年来微型计算机及高精度光电测试工具的发展，测量光学传递函数的方法日趋完善，已成为光学成像系统的频谱分析理论的一种重要应用。另外，光学成像系统的传递函数分析方法作为光学信息处理技术的理论基础，有得于推动光学信息处理技术在信息科学中得到广泛的应用。
MTF 是瑞典哈苏公司制定的反映镜头成像质量的一个测试参数，反映的是镜头对现实世界的再现能力。这是一个复杂的测试体系，是对镜头的锐度，反差和分辨率进行综合评价的数值。对于一个平面黑(白)色物体，它的线对频率是 0。此时，任何一个最简易的镜头都可以完整的体现出这一反差。即 MTF 值等于 1。而对于纯黑和纯白相间的线条(反差为 100%)来说，随着线对频率的提高，通过镜头表现的反差就相应减少(反差小于 100%)。当频率达到一个很高的数值时(例如 1000 线对/毫米)，则任何镜头也只能把它们记录成一片灰色。这时镜头的 MTF 值就接近于 0。因此，MTF 值是一个界于 0 到 1之间的数值。这个数值越大(越接近1)，说明这个镜头还原真实的能力越强。
对于一个线性或可以近似看作线性的成像光学系统，当一个点光源在物方移动时，如果点光源的像只改变位置，而不改变函数形式，则称此成像系统是空间不变的。一般的光学系统成像总是可以认为满足线性条件和空间不变性条件的。这个系统对脉冲响应的傅立叶变换即是空间频率的光学传递函数。
点扩展函数 PSF(Point Spread Function)，线扩展函数 LSF(Line Spread Function)和边缘扩展函数 ESF(Edge Spread Function)是与 MTF 密切相关的几个重要概念。常用的 MTF 测试方法正是基于这几个函数之间的关系进行计算。
PSF 是点光源成像的强度分布函数，我们用一个函数 , x y 作为理想的输入，假设图像接收器是连续采样，即不用考虑有限大小的像素或有限的采样距离，则二维的图像强度分布就等于脉冲响应(,)h x y，也称为点扩散函数(,)PSF x y。由光学传递函数的定义可知，MTF 可以通过对(,)PSF x y 进行二维傅立叶变换得到，见公式(3-1)。
(,)(,)exp 2 OTF u v PSF x y i xu yv dxdy (8-1)PSF 是表征成像系统最有用的特征，理论上也是获取 MTF 的一种方法，而且一次测试可以同时得到子午和弧矢两个方向的 MTF，但是在实际应用中，由于点光源提供的能量较弱，而且得到理想的点光源比较困难，进行二维光学传递函数计算较为繁琐，所以很少应用。常用的方法是利用狭缝像代替星点像，从而获得线扩散函数及其一维方向上的光学传递函数。设光源沿 y 方向延伸形成一维光源，其上各发光点不相干，则狭缝目标物可以看成在 y 方向为常量，以 x 为变量的 函数。可以表示为(,)()1()f x y x y (8-2)线光源上的每个点都在像平面产生一个 PSF，这些线性排列的 PSF 在单一方向产生叠加，也就是说，光学系统所成的像可以看成是系统对无数个物点成像以后，再由这些点像按强度叠加的结果。像平面的图像强度分布(,)g x y 就是 LSF，一个与狭缝目标物一样只与 x 空间变量相关的函数。所以狭缝像的光强分布可以用线扩散函数()LSF x 来表示。
(,)()g x y LSF x (8-3)LSF 也是光学成像系统脉冲响应与线光源的二维卷积。
(,)()(,)(,)()1()(,)g x y LSF x f x y h x y x y PSF x y (8-4)根据系统的线性叠加理论，y 为常量的卷积等价于沿 x 方向的积分，因此上式可以写成积分的形式得到线扩展函数 LSF 为()(,)LSF x PSF x y dy(8-5)由傅立叶变换的卷积定理可以得到一维光学传递函数
2()()i uxOTF u LSF x e dx(8-6)调制传递函数 MTF 的测试方法按共轭方式的不同，可以分为有限共轭和无限共轭两种，如图 8-1 所示。有限共轭系统是指物体在待测镜头前面一个有限距离并且在待测镜头后一个有限距离形成物体的实像。有限共轭透镜的实例包括照相放大镜头、超近摄镜头、光纤面板、显像管和影印镜头等。对于有限共轭系统，放大率等于图像高度除以物体高度。要进行有限共轭测量，将光源置于距在测装置有限距离处并要求知道测试时的物距和像距，以精确计算物按几何光学理论换算到像平面的尺寸，作为物频谱计算的依据。无限共轭系统要用准直仪将目标物呈现在待测镜头上，像平面的图像尺寸可以由物体宽度，准直仪焦距和待测镜头焦距计算。
图 图 8-1 有限共轭与无限共轭光学系统 狭缝法测试 MTF 的原理就是采用狭缝对一个被测光学系统成像，对于采集到的带有原始数据和噪声的图像信号数字化然后进行去噪处理，再对处理过的 LSF 进行傅立叶变换取模得到包括目标物在内的整个系统的 MTF，最后对影响因素进行修正得到最终被测系统的 MTF。对于无限共轭光学系统，这个影响因素主要包括目标狭缝、准直系统、中继物镜和 CCD/CMOS 各部分本身的 MTF；对于有限共扼光学系统，则主要是狭缝和CCD/CMOS 的影响。
3.4 实验仪器平行光管、待测透镜组、镜架、导轨、滑块、CMOS 相机、成像光阑、燕尾式平移台、计算机等。
3.5 实验内容 图 图 8-2 光学系统传递函数测量实验 装配图 1．如图 8-2 所示，将平行光管、待测透镜和 CMOS 相机放置在在导轨滑块上，调节所有光学器件共轴，打开平行光管光源，CMOS 相机前装配成像光阑，通过数据线与计算机相连。
注意：连接平行光管的直流可调电源选用 V 9V 输出，即配有单 接口 的可调电源。实验另配有 V 12V 可调电源，为 双 输出 接口。如果错接成 V 12V 输出的可调电源则可直接烧毁平行光管里的 D LED 灯。
2．运行实验软件，选择“ 采集模块”中的“ 采集图像”，调整相机和透镜间的距离，使计算机图像画面上能出现平行光管中分划板的像，找到分划板像后，固定相机下的滑块，微调平移台，使成像清晰。
3．如图像亮度和对比度不够，可以适当调节软件采集模块的增益和曝光时间。当图像调节合适后，先点击“ 停止采集”，然后点击“ 保存图像”，将图片保存在计算机中。
4．选择实验软件中的“MTF 测量”功能模块。点击“ 读图”读入刚保存的线对图，如图 8-3 所示。
图 图 8-3 读入狭缝图 4．点击“ 选取线扩散函数”，将鼠标移至一条狭缝的中心，单击左键。则会出现一个红色的矩形框，如图 8-4 所示。
图 图 8-4 选择线扩散函数 5．点击“ 显示线扩散函数”，则可以得到红色矩形框中狭缝图案的线性扩散函数图，如图 8-5 所示。可点击“ 保存图像”将计算曲线保存。
图 图 8-5 线扩散函数图 6．点击“算 计算 MTF”，便可得到被测透镜的 MTF 图。如图 8-6 所示。
图 图 8-6 被测透镜 MTF 图 3.6 思考题 a.光学传递函数(MTF)反映了什么？ 答：光学传递函数是频率的函数，它反映了光学系统对物体不同频率成分的传递能力。
实验 9 透镜 焦距测量 实 验 4.1 引言 透镜测量仪的核心部件是平行光管。
4.2 实验目的 1.利用透镜测量仪测量凸透镜焦距； 2.利用透镜测量仪测量凹透镜焦距。
4.3 实验原理 焦距仪的测量原理：光源照亮双缝刻线，经平行光管以平行的光线投射到被测透镜上后，双缝刻线会在其焦平面上成像，成像透镜上下移动，当移动到精确的透镜焦平面位置时，测量 CCD 像面上的双缝像。
测量凸透镜焦距的原理图图如图 9-1 所示,由光路图 9-1 中容易看出 图 图 9-1 凸透镜焦距测量原理图 ofy tan xfy 1t a n (9-1)平行光管射出的是平行光，且通过透镜光心的光线不改变方向，因此 1 1 (9-2)x ofyfy(9-3)x oyf fy (9-4)其中of 为平行光管物镜焦距，y 为玻罗板上线对的长度，" y 为用 CCD 采集得到的玻罗板上线对像的距离。本实验中实际测量凸透镜焦距和凹透镜焦距的光路图如图 9-2 和图9-3 所示。
图 图 9-2 凸透镜焦距测量光路图 图 图 9-3 凹透镜焦距测量光路图 测量凹透镜焦距需要将一自准直透镜组与待测凹透镜组成伽利略望远系统，通过测量 CCD 中采集到的望远系统中的像对距离，即可求得凹透镜的焦距 ""x oyf fy (9-5)4.4 实验仪器平行光管、自准直透镜组、待测透镜组、透镜夹持具、导轨、滑块、CMOS 相机、成像光阑、计算机等。
4.5 实验步骤 凸透镜焦距测量实验
图 图 9-4 凸透镜焦距测量实验图 步骤 1.参照图 9-4，将平行光管、待测透镜（凸透镜）和 CMOS 相机放置在导轨滑块上，调节所有光学器件共轴，打开平行光管光源，CMOS 相机前装配成像光阑，通过数据线与计算机相连。固定平行光管和透镜下的滑块。运行实验软件，选择“ 采集模块”中的“ 采集图像”，调整相机和透镜间的距离，使计算机图像画面上能出现平行光管中分划板的像，找到分划板像后，固定相机下的滑块，微调平移台，使成像清晰。
注意：连接平行光管的直流可调 电源选用 V 9V 输出，即配有 单接口 的可调电源。实验另配有 12V可调电源，为 双接口 输出。如果错接成 V 12V 输出的可调电源则可直接烧毁平行光管里的D LED 灯。
步骤 2.调节平行光管光源亮度，使 CMOS 相机的对线像清晰均匀，且不会曝光过度，点击“ 保存图像”保存图片。图 9-5 为例图，可参考。
图 图 9-5 对线分划板清晰图 步骤 3.运行“ 焦距测量”模块，在“ 透镜选取”中选择“ 正透镜”，单击“ 读图”读入刚采集的图片。设置好二值化阈值后（默认数值为 0.3），点击“ 二值化”，可得到二值化处理后的线对图，图 9-6 为例图。
图 图 9-6 二值化处理后的对线图 步骤 4.输入被测的分划板对线距离（默认数值为 10mm），点击“ 截取测量区域”，用鼠标在图像上划取一个矩形框，如图 9-7 所示，矩形框比线对略宽。
图 图 9-7 截取测量区域图 步骤 5.点击“ 测量焦距”，便可测得该透镜焦距。
步骤 6.在不同位置多选择测量区域，测量焦距。多组焦距值取平均值。
24101518 图 图 9-8 玻罗板 凹透镜焦距测量实验
图 图 9-9 凹透镜焦距测量实验图 步骤 7.将平行光管和 CMOS 相机放置在平行导轨上。CMOS 相机尽量放在靠近导轨的另一侧，给中间待测透镜和自准直透镜留下摆放空间，并调节共轴，固定滑块。打开平行光管光源。
注意：连接平行光管的直流可调电源选用 V 9V 输出，即配有 单接口 的可调电源。实验另配有 V 12V 可调电源，为 双 输出 接口。如果错接成 12V V 输出的可调电源则可直接烧毁平行光管里的 D LED 灯。
步骤 8.将其中一个自准直透镜(Φ:40mm，f:150mm)（双凸透镜）加入光路，放置在靠近相机一端的导轨上。调节共轴，寻找平行光管里的线对像。此时，根据实际情况，可再次调整相机的高度，保证光路共轴。在找到线对像后，移动自准直透镜，将成像调整清晰，即可。
步骤 9.将另一个自准直透镜放置在平行光管和已经调整好的自准直透镜之间。调整共轴调并移动透镜。通过相机采集软件，寻找清晰像。找到清晰线对像后，固定滑块。最后放入待测透镜，同样调整共轴并移动待测透镜寻找清晰的线对像。找到清晰像后，固定滑块。旋转电源旋钮，调节平行光管光源亮度，使 CMOS 相机的对线像清晰均匀，且不会曝光过度，保存图片。
步骤 10.重复步骤 2-6，在“ 透镜选取”中选择“ 负透镜”测量即可。
